ELES ha avviato la qualifica della soluzione TDBI (Test During Burn-In) come nuovo approccio al test dei dispositivi Smart Power per uno dei primi 10 player mondiali di Semiconduttori.
Questo approccio innovativo al test, con DFT (Design For Testability) & BIST (Built-In SelfTest), consente di effettuare la quasi totalità del test del dispositivo, sulla piattaforma di test ELES: si combinano così Stress e Test insieme e si ottiene la piena applicabilità della offerta R.E.T.E. (Reliability Embedded Test Engineering), l’elemento distintivo di ELES.
La PMI innovativa attiva nel settore del testing della microelettronica per i più significativi mercati industriali ossia aerospace & defence, automotive, consumer electronics e semiconductor, può così vantare Librerie per coprire con il TDBI e RETE le principali famiglie di dispositivi a semiconduttore: Memory, SOC Micro con Embedded Memory, MEMS e Smart Power.
“Continuiamo a sviluppare la nostra offerta per coprire sempre maggiori spazi di mercato e dare ai nostri Clienti importanti vantaggi competitivi”, afferma Antonio Zaffarami, Presidente di ELES.
In primis si ha una “riduzione drastica del tempo di test su ATE (Automatic Test Equipment): visto l’elevato costo di queste macchine, riducendo l’utilizzo di ATE l’incidenza del costo del test sul costo totale del dispositivo diminuisce in modo esponenziale e quindi il costo generale del dispositivo si riduce fortemente a vantaggio di nuova competitività. Questo è quello che abbiamo già ottenuto per le famiglie di dispositivi MEMORY, MEMS e SOC Micro con Embedded Memory. Oggi, il BIST analogico, applicato sui dispositivi SMART POWER del nostro Cliente, ci consente di rendere più competitivi anche questi dispositivi con tutti gli ulteriori vantaggi distintivi della offerta RETE”.
Inoltre, “con l’attivazione di RETE sui dispositivi SMART POWER, Adaptive Stress e Test potranno essere applicati unitamente e questo porterà alla attivazione e rilevazione delle difettosità più critiche”.
“ELES vuole portare lo stesso tipo di approccio anche sulla famiglia di dispositivi SMART POWER, che nativamente è la tecnologia meno adatta alla migrazione di test da ATE alla nostra piattaforma ART”, aggiunge l’AD Francesca Zaffarami. “La chiave di ciò è R.E.T.E., grazie a DFT & BIST dedicati per questo tipo di famiglia e di applicazione. Entro il mese di luglio contiamo di chiudere la fase di sviluppo interno di una prima Applicazione. Seguirà la fase di validazione, ossia la correlazione delle misure eseguite su ATE con quelle eseguite sulla nostra piattaforma ART”.
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