Eles, fornitore mondiale di soluzioni per il test dei dispositivi a semiconduttore (IC Integrated Circuits) con applicazioni Safety e Mission Critical, ha consolidato ulteriormente la relazione con un importante Cliente Americano leader mondiale nella produzione di Microcontrollori, ricevendo un ordine per la fornitura di Test Application a Strip Level per Microcontrollori di più elevata complessità.
Eles ha sviluppato una soluzione innovativa per il test dei Microcontrollori (MCU) a Strip Level, prima della singolarizzazione di ogni dispositivo nel suo rispettivo package, ossia quando i chip sono ancora tutti collegati sulla strip. Effettuando il test a Strip Level, ove possibile, il processo di test cambia, fornendo una serie di vantaggi.
L’innovazione “STRIP TDBI”, prodotta mediante la complessa combinazione di i) nuove librerie per la testabilità DFT (Design for Test) & BIST (Built-In Self Test), ii) nuove test fixture e iii) nuovi test program, consente di attivare il TDBI e, conseguentemente, l’offerta R.E.T.E.
Grazie quindi allo “STRIP TDBI APPROACH” il processo produttivo risulta molto più efficiente, e consente di migliorare così l’affidabilità del prodotto verso zero difetti e di ottenere forti riduzioni del costo del test e quindi del costo del dispositivo stesso.
Recentemente la soluzione STRIP TDBI Eles era stata utilizzata dallo stesso Cliente per rendere competitivo il Burn-In di dispositivi “Low Cost”, ottenendo una riduzione del costo del test, rispetto alla soluzione tradizionale con dispositivi singolarizzati, superiore al 70%. Ora lo stesso approccio sarà applicato a dispositivi a maggiore complessità, confermando la scelta delle soluzioni Eles che amplia il campo di applicabilità delle soluzioni “STRIP TDBI”.
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